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    日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216

    訪問次數(shù):1505

    更新日期:2025-05-02

    簡要描述:

    日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216
    消除測量者的偏差舒適,準(zhǔn)確地測量1μm或更小的超薄膜

    日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216
    類型數(shù)字式測量范圍1

    日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216

    消除測量者的偏差舒適,準(zhǔn)確地測量1μm或更小的超薄膜

    * 1線性度是
      顯示是否可以與測量頭的位移量成比例顯示的比率。  位移量
     為±0.2%
    / 100μm±0.2μm
      位移量/ 500μm±1μm
      位移量/ 1000μm±2μm
     ?。y量誤差因位移量而異)

    • 重復(fù)性/ 0.05μm
      (使用升降器重復(fù)上下觸控筆)
    • 測量分辨率/ 0.01μm
    • 線性度/±0.2%* 1
    • 可以改變測量壓力(z小測量壓力0.14N)
    • 米/ R30超硬球面
    • 測量范圍/ 200μm * 2
    • 測量架/測量表面Φ50陶瓷制成
    • 輸出/模擬和RS232C
    • 電源/ AC100V
    • 選件/
      ?軟件?數(shù)據(jù)打印機(jī)?更換筆
      ·真空臺·外部置零開         
    • * 2根據(jù)被測物體的材質(zhì),測量范圍可能會改變。

    *注意* HKT-1240已因放大器單元的停產(chǎn)而停產(chǎn)。HKT-1216將替代HKT-1240。

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