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    日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測

    訪問次數(shù):1575

    更新日期:2025-05-02

    簡要描述:

    日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測CRN-100
    超高電阻范圍:以非接觸方式測量10E + 9至10E + 15Ω/□
    平面多點測量功能

    日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測

    日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測CRN-100

     

    產(chǎn)品特點

    • 超高電阻范圍:以非接觸方式測量10E + 9至10E + 15Ω/□
    • 平面多點測量功能
    • 2D / 3D映射圖像顯示
    • Windows 7軟件
    • 測量數(shù)據(jù)可以CSV文件格式輸出
    • 由于是非接觸型,因此可以不受接觸電阻的影響進行測量。

    測量規(guī)格

    測量目標(biāo)

    *通常,可以測量本設(shè)備測量范圍內(nèi)的任何樣品。請聯(lián)xi我們。

    ?超高電阻薄膜樣品(a-Si,IGZO等)

    ?半導(dǎo)體材料接近絕緣

    ?導(dǎo)電橡膠

    這樣

    測量尺寸

    尺寸:z大300 x 400毫米

    厚度:z大2毫米

    *我們可以自定義您的要求,例如尺寸支持。請聯(lián)xi我們。

    測量范圍

    10E + 9?10E + 15Ω/□

     

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