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日本kdn瞬時壓降保護裝置KDP系列 防止瞬時電壓下降和瞬時電源中斷。 它是一種無電池/無風扇對策設備，于追求長壽命和免維護的瞬時低電壓和瞬時中斷。
更新日期：2025-05-02 訪問量：2753
日本magna磁感應特斯拉計TM-4702 高斯計（又稱特斯拉計）是根據(jù)霍爾效應原理制成的測量磁感應強度的儀器，它由霍爾探頭和測量儀表構成?；魻柼筋^在磁場中因霍爾效應而產生霍爾電壓，測出霍爾電壓后根據(jù)霍爾電壓公式和已知的霍爾系數(shù)可確定磁感應強度的大小。高斯計的讀數(shù)以高斯或千高斯為單位。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1580
日本digitech高負荷自動試驗臺AFS-2000 拉力試驗機
日本digitech高負荷自動試驗臺AFS-2000 拉伸/壓縮型電動支架高達2000N（200kg）。 通過將稱重傳感器直接連接到儀器，使用外部連接型測力計 DTW 系列。
更新日期：2025-05-02 訪問量：2051
日本digitech測力儀自動試驗臺ASM-1000 拉力試驗機
日本digitech測力儀自動試驗臺ASM-1000 波形繪圖軟件標準附件！各種負載-兼容位移評估測試！
更新日期：2025-05-02 訪問量：1972
日本digitech數(shù)顯力計Model-ss100 拉力試驗機
日本digitech數(shù)顯力計Model-ss100 用于稱重傳感器的通用數(shù)字負載指示器。 它可以連接到各種類型的稱重傳感器。 通過打一個安裝孔，它可以很容易地安裝在任何地方。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1612
日本digitech數(shù)字測力計DTG系列 拉力試驗機
日本digitech數(shù)字測力計DTG系列 具有位移顯示和位移控制功能的測力計 使用大屏幕和大字符，方便查看測量值 帶自動斷電功能/帶插拔測試功能（帶開路集電極輸出）
更新日期：2025-05-02 訪問量：1688
日本adcmt手持式光功率計8230E 8230E 是一款低成本的手持式光功率計，非常適用于生產線，例如用于光盤的 LD、光學拾音器和驅動設備。 我們準備了四種類型的光學傳感器，兩種類型，通用和高功率，兩種類型，薄型和圓柱形，取決于應用。高功率光學傳感器 82313B / 82323B 能夠進行高達 200 mW 的高功率測量。
更新日期：2024-03-20 訪問量：2503
日本adcmt手持式光功率計8230 8230是一款高性能的手持式光功率計，適用于光盤、光頭、驅動設備等LD的研發(fā)和生產線。
更新日期：2024-03-20 訪問量：2093
日本adcmt臺式光功率計 8250A 8250A光功率計是一款臺式光功率計，適用于光盤、光頭、驅動裝置等LD的研發(fā)和生產線。 它具有 0.001 dB 分辨率、5½ 位顯示，并配備了 GPIB 和 USB 接口作為標準設備，可以輕松構建自動化系統(tǒng)。
更新日期：2024-03-20 訪問量：2355
日本olympus臺式 X 射線熒光分析儀 Gold Xpert 用于貴金屬商店等陳列室。機身輕巧緊湊，重約 10 kg，因此可以輕松移動和安裝在需要分析的地方。GoldXpert 可以快速無損地進行高精度元素分析和分級。
更新日期：2025-05-02 訪問量：2644
手持式X射線熒光分析儀Vanta Element系列 X射線儀器
日本olympus手持式X射線熒光分析儀Vanta Element系列 Vanta Element 系列包括有助于簡化金屬回收和質量控制流程的連接功能。
更新日期：2025-05-02 訪問量：3253
VANTA-Robust手持式 X 射線熒光分析儀 X射線儀器
日本olympus手持式 X 射線熒光分析儀 VANTA-Robust VANTA系列是一款便攜式熒光X射線分析儀，具有出色的穩(wěn)健性、耐用性和高分析性能，并可直觀操作?？稍诂F(xiàn)場快速無損地實現(xiàn)與分析實驗室質量同等水平的檢測，并能高精度地分析元素成分。
更新日期：2025-05-02 訪問量：2933
日本collet顯微鏡溫控器LMT-S700系列 LMT-S700系列顯微鏡溫控器得益于科萊顯微鏡溫控器豐富的技術和成果，可以精確控制大范圍的溫度。
更新日期：2025-05-02 訪問量：2342
日本collet顯微鏡溫控器MT-1200 MT-1200系列顯微鏡溫控器得益于夾頭顯微鏡溫控器和新開發(fā)的特殊材料加熱器的豐富技術和成就，可以在高溫（MAX1200°C）下進行清潔的表面觀察和樣品測量。
更新日期：2025-05-02 訪問量：2027
日本collet激光3D測量的溫控器LMT-S系列 溫度測量器
日本collet激光3D測量的溫控器LMT-S系列 該腔室適用于使用激光坐標測量機對半導體封裝、裸芯片、印刷電路板和各種材料等因 -120°C 至 350°C 的溫度變化而導致的熱變形進行非接觸式測量。
更新日期：2025-05-02 訪問量：2127
